BTG Labs的首席执行官和主导科学家吉尔斯迪尔宾博士和研发化学家,Brooke Campbell最近合作美国宇航局科学TS.和研究人员弗吉尼亚大学电气计算机工程系关于在“杂志”中发表的文章应用光谱学会。
本文涵盖了激光诱导的击穿光谱(LIBS)的灵敏度的研究以及它将其与X射线光电子能谱(XPS)进行比较以检测和测量表面硅氧烷污染。
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X射线光电子谱(XPS)和激光诱导击穿光谱(LIBS)对环氧复合材料对环氧复合材料的痕量硅污染分析
由Rodolfo Medesma,Frank Palmieri,Brooke Campbell,William Yost,James Fitz-Gerald,Giles Dillingham和John Connell
抽象的
表面处理和表面表征技术对于确保在粘合剂粘合之前的粘附性和不含污染物的粘附性,这是至关重要的。来自脱模剂和其他来源的硅氧烷污染可以干扰界面粘合,降低粘合复合结构的耐久性和性能。
有必要具有可用于生产环境的工具和方法,以以快速,简单,经济有效的方式可靠地检测低水平的污染物,以提高粘合可靠性。
在这项工作中,使用激光诱导的击穿光谱(Libs)进行碳纤维增强聚合物(CFRP)复合材料的表面表征,并将结果与由X射线光电子谱(XPS)获得的那些进行比较。激光诱导的击穿光谱在易用性,样品制备和实时结果方面提供了许多优于XPS的优点。
比较的目的是研究LIBS的敏感性,并研究LIBS测量的表面物种的定量。另一个目标是评估各种技术的可靠性,用于表面污染物表征。由于处理的CFRP面板具有来自制造过程的痕量表面硅氧烷污染,其来源未被研究。在选择平均激光功率水平时,复合材料在选择平均激光功率水平下进行激光,导致变化水平的污染减少。使用XPS在控制和激光烧蚀的表面上进行Si原子百分比测量。
结果表明,两种技术之间的Si浓度具有优异的相关性。
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